LUTIS TECH CO. LTD.

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(Gasan-dong, Daesung D-polis Knowledge Industry Center),

326-ho, 606, Seobusaet-gil,Geumcheon-gu,Seoul,08504, Korea

제품소개

전체제품

최대 33,450개 디바이스 지원

초고속의 In-System 프로그램

멀티 프로그램 모드

DLL및 스크립트 언어 지원

평생 무료 업그레이드 지원

ChipProg-ISP2

In-System Device Programmer

초고속 프로그램 속도

1Gb NAND 플레쉬 ​프로그램 + 베리파이 속도 : 23초

약 ​80,259개 디바이스 지원

ISP 기능 지원

DLL및 스크립트 언어 지원

평생 무료 업그레이드 지원

ChipProg-481

디바이스 프로그래머

11 Haptic Keys are automatically detected by automatically measuring Fore and distance and time of Key
And you can display the results graphically so you can easily check it when you make a bad decision

The user can set the time and distance with each Force.

Haptic Key Tester

자동화 장비

It is an equipment to inspect foreign objects, angle of view, focus, and optical axis of camera with ISO chart.

Camera Module Tester

테스트 장비

Dual cannel PCI express frame grabber & MIPI 4-Lane interface

C-PHY/D-PHY 겸용 인터페이스 지원

EVDC2EX4G2 V1.0

PCI Express Frame Grabber

호스트 I/O Map에 직접 매핑이 되어 각종 I/O 모듈을 제어 할 수 있다. 

양방향 90Mbyte/s의 전송 속도로 제어 가능하여 I2C, SPI 등의 제어를 고속으로 처리 가능

EV-SLEC-PD-F

PMU Box

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The FORMULA® HF Ultra 테스트 시스템은 초고주파 VLSI회로의 기능 테스트및 매개변수 테스트를 위한 자동 테스트 설비(ATE)입니다.

The FORMULA®는 VLSI회로의 품질 관리, 새로 개발된  VLSI회로 테스트와 분석및 제품의 생산

모니터링에 적용할수 있습니다.

The FORMULA® HF Ultra는 마이크로전자 장치의 측정 및 테스트와 관련된 계측 표준의 요건을 충족합니다.

FORMULA HF ULTRA TEST SYSTEM

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FORMULA® TT3 Test Systems테스트 시스템은 전계 효과 트랜 지스터(FET)와 바이폴라 트랜지스터 및 IGBT, 다이 오드, 사이리스터, 전압 조절기 다이오드, 옵트론 및 마이크로어셈블리 등 반도체 소자의 정적 매개변수 를 포괄적으로 자동 검증하도록 설계되었습니다.

FORMULA® TT3 TEST SYSTEM